

K9F8G08U0F-5IB0是一款采用NAND Flash技术的非易失性存储芯片,其核心架构基于三星成熟的50纳米制程工艺。该芯片内部组织为8Gbit(1GByte)的总存储容量,物理结构上由多个块(Block)和页(Page)构成,每个块包含64个页,每个页的容量为(2K+64)字节,其中2K字节用于主数据存储,64字节作为备用区域,用于存储ECC校验码、坏块标记等管理信息。这种架构设计在保证高存储密度的同时,也兼顾了数据管理的灵活性和可靠性。
该器件集成了片上ECC(错误检查和纠正)引擎,能够自动检测并纠正一定范围内的位错误,这对于保障在反复编程和擦除循环中数据的完整性至关重要。其工作电压范围覆盖2.7V至3.6V,支持标准的异步NAND Flash接口,命令、地址和数据通过8位I/O端口复用传输,时序控制清晰,便于与主流微控制器或专用NAND控制器连接。其编程时间典型值为200μs(每页),块擦除时间典型值为1.5ms,这些参数确保了高效的数据写入和存储空间管理效率。
在接口与参数方面,K9F8G08U0F-5IB0遵循业界通用的命令集,支持随机读、页编程、块擦除等基本操作,并具备写保护、就绪/忙状态输出等控制功能。其工作温度范围符合工业级标准,通常为-40°C至85°C,使其能够适应更严苛的环境。对于需要稳定供应链和技术支持的客户,可以通过专业的三星芯片代理商获取该产品及相关设计资源。其耐久性典型值为每个块可承受10万次编程/擦除循环,数据保持时间在常温下可达10年,这些特性共同构成了其高可靠性的基础。
基于其容量、性能和可靠性,K9F8G08U0F-5IB0非常适合应用于需要中等容量固态存储且对成本敏感的嵌入式系统。典型应用场景包括数码相机、便携式媒体播放器等消费电子产品的数据存储,打印机、扫描仪等办公设备的固件或缓冲存储,以及工业控制设备中的参数记录和程序存储。其稳定的性能和广泛的设计支持,使其成为众多嵌入式开发项目中可靠的存储解决方案。



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