

K9F6408U0C-TB0是一款采用NAND Flash架构的非易失性存储器芯片,其核心存储单元基于浮栅晶体管技术构建。该芯片内部组织为(512+16)字节的页结构,每32页构成一个块,总容量为64M×8位,即512Mbit。这种架构设计在保证数据存储密度的同时,通过块擦除和页编程的操作模式,实现了高效的大容量数据管理。其内部集成了页寄存器,支持在编程或读取操作期间进行数据缓存,从而优化了与主控制器的数据交换流程。
该器件具备多项关键特性以满足高可靠性应用需求。其页编程时间典型值为200μs,块擦除时间典型值为2ms,提供了快速的写入和擦除性能。芯片支持命令、地址和数据通过同一组8位I/O端口进行复用的接口方式,这有效减少了引脚数量,简化了PCB布局。其工作电压范围为2.7V至3.6V,兼容标准的3.3V系统。为了确保数据完整性,芯片内置了ECC(纠错码)引擎所需的空闲区域(每页16字节),并提供了写保护(WP#)引脚和就绪/忙(R/B#)输出引脚,便于系统进行状态监控和写操作保护。
在接口与参数方面,K9F6408U0C-TB0采用异步接口,遵循标准的NAND Flash命令集,包括读ID、复位、页读、页编程和块擦除等操作。其I/O端口不仅用于传输数据,还用于输入命令字和行列地址,这种设计提高了引脚利用率。芯片的耐久性典型值为10万次编程/擦除循环,数据保持时间可达10年,这些参数使其能够胜任需要频繁更新数据的应用场景。对于需要稳定供应链和技术支持的客户,可以通过专业的三星芯片代理商获取该产品及相关设计资源。
基于其容量、性能和可靠性,该芯片广泛应用于各类嵌入式系统和消费电子设备中。典型应用场景包括数码相机、便携式媒体播放器等设备中的数字媒体存储,打印机、扫描仪等办公设备的固件与缓冲数据存储,以及网络设备、工业控制模块中的参数配置与日志记录。其稳定的性能和成熟的工艺使其成为中容量非易失性存储解决方案中的一个可靠选择。



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